JTAG(Joint Test Action Group�聯(lián)合測試行動(dòng)小組)是一種國際標準測試協(xié)議（IEEE
1149.1兼容）,主要用于芯片內部測試?，F在多數的高級器件都支持JTAG協(xié)議,如DSP、
FPGA器件等。標準的JTAG接口是4線(xiàn)：TMS、TCK、TDI、TDO,分別為模式選擇、時(shí)鐘、數據
輸入和數據輸出線(xiàn)。
JTAG最初是用來(lái)對芯片進(jìn)行測試的,基本原理是在器件內部定義一個(gè)TAP（Test Access
Port�測試訪(fǎng)問(wèn)口）通過(guò)專(zhuān)用的JTAG測試工具對進(jìn)行內部節點(diǎn)進(jìn)行測試。JTAG測試允許多
個(gè)器件通過(guò)JTAG接口串聯(lián)在一起,形成一個(gè)JTAG鏈,能實(shí)現對各個(gè)器件分別測試?，F在,
JTAG接口還常用于實(shí)現ISP（In-System Programmable�在線(xiàn)編程）,對FLASH等器件進(jìn)行
編程。
JTAG編程方式是在線(xiàn)編程,傳統生產(chǎn)流程中先對芯片進(jìn)行預編程現再裝到板上因此而改變,
簡(jiǎn)化的流程為先固定器件到電路板上,再用JTAG編程,從而大大加快工程進(jìn)度。JTAG接口可
對PSD芯片內部的所有部件進(jìn)行編程
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