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數據采集和儀器:數據處理和校準

在本文的第一部分《數據采集和儀器:DAS和傳感器》中,我們研究了數據采集系統(DAS)中涉及的電子技術(shù)和傳感器。在第二部分中,我們將了解獲取原始ADC數據后該如何處理。


采集和處理策略


圖1所示為通道數據處理塊圖。每個(gè)方塊代表一個(gè)具有輸入和輸出量的函數(或“曲線(xiàn)”)。待測量的通道輸入量X由傳感器轉換成傳感器電量S,比如電阻或電壓。傳感器電路(比如電橋)對傳感器做出響應并產(chǎn)生電壓V??删幊淘鲆娣糯笃靼丛鲆鍳放大V,輸入到A/D轉換器,得到VxG。然后A/D轉換器(ADC)將此電壓轉換為數字計數W。

圖1:通道數據處理塊圖。


PGA和ADC一起帶來(lái)偏移和增益(斜率)誤差。如果PGA和ADC是線(xiàn)性的,則可以通過(guò)下一個(gè)方塊U(W)(或LXFM)在軟件中進(jìn)行誤差糾正。它使用通道校準參數將原始數據計數W轉換為U=V,使U表示與V相同的值。換句話(huà)說(shuō),U(W)反轉、“撤消”或線(xiàn)性“補償”P(pán)GA和ADC組合造成的線(xiàn)性誤差。通過(guò)數學(xué)公式可將其設置為:



用數學(xué)函數表示F(G),F是G的函數,即F是輸出,取決于輸入G。U(W)是線(xiàn)性變換,不能補償非線(xiàn)性傳感器或傳感器電路,它只能反轉線(xiàn)性函數。在傳感器和電路都是非線(xiàn)性的情況下,U(W)僅能校正線(xiàn)性誤差,U(W)設定為等于V。


對于非線(xiàn)性傳感器或電路,第一個(gè)非線(xiàn)性補償方塊Z(U)可補償傳感器電路的非線(xiàn)性,并設置為V–1(S)=S(V)。最后一個(gè)方塊用來(lái)補償傳感器的非線(xiàn)性,它基于制造商的傳感器曲線(xiàn)Y(Z),對應于實(shí)際傳感器的X(S)=S–1(X)。


總的來(lái)說(shuō),每個(gè)軟件處理塊執行模擬DAS塊的反轉,以便在給定W的情況下,通過(guò)撤消每個(gè)DAS塊對X進(jìn)行的操作來(lái)恢復X。


例如,考慮電橋電路中的單個(gè)RTD溫度傳感器。X是溫度,單位為oC。RTD電阻隨溫度變化而改變,產(chǎn)生R(X)。橋電路電壓隨R(X)非線(xiàn)性變化,根據分壓器公式產(chǎn)生輸出電壓V(R):



其中Rbr是分壓器上電阻,R是傳感器(下)電阻,Vbr是橋電壓。DAS將該電壓數字化并輸出數字代碼W(V)。然后U(W)以數字形式補償DAS,使U=V。接下來(lái),將U應用于第一非線(xiàn)性功能模塊R(U)。它使用上面的分頻器公式將計數U轉換為RTD的電阻。(由于分頻器公式的動(dòng)態(tài)范圍很大,經(jīng)常使用浮點(diǎn)數學(xué)計算,因此返回的電阻值是浮點(diǎn)值。)


下一個(gè)非線(xiàn)性塊將電阻轉換為溫度,單位為oC,是函數T(R)。這是制造商給出的傳感器曲線(xiàn)。Y(Z)可以反轉傳感器函數,從而使其線(xiàn)性化。這個(gè)例子的目標是通過(guò)下面的等式實(shí)現Y=X:



橋電壓補償


傳感器電橋電路的靈敏度與電橋電壓成正比。電橋輸出電壓V(Vbr,R)取決于傳感器輸出量(即電阻),S=R,以及橋電壓Vbr。它可以表示為:


圖3示出了該函數。

圖2:傳感器橋電路的靈敏度與電橋電壓成正比。


“x”乘法器模塊是一個(gè)附加模塊,它是通過(guò)將U(W)分成兩個(gè)模塊來(lái)補償的,如圖3所示。

圖3:“x”乘法器模塊通過(guò)將U(W)分成兩個(gè)模塊來(lái)補償。


U(W)補償W(B),使得U=B(R)。此外,由電橋補償軟件執行的U(V)用校準值補償電橋中的電壓漂移。Vbr通過(guò)橋電壓通道測量。最后的測量值及其校準值Vbr0用于形成補償的比例因子。


線(xiàn)性校準


兩點(diǎn)校準假設傳感器和DAS增益是線(xiàn)性的。例如,如果應力傳感器增益為1V/kN,它隨所施加的應力大小而變化,因此是非線(xiàn)性的。為得到線(xiàn)性變換的偏移和斜率U(W),即DAS的線(xiàn)性部分,μC編程通過(guò)所獲得的兩個(gè)數據點(diǎn)構造了一條線(xiàn),如圖4所示。w軸是原始數據,即ADC的數字化計數。u軸是按給定單位處理過(guò)的數據。利用已知輸入值u1和u2進(jìn)行兩次測量。ADC原始數據計數輸出為w1和w2。


圖4:μC編程通過(guò)所獲得的兩個(gè)數據點(diǎn)構造了一條線(xiàn)。


然后我們得到兩個(gè)方程,可以求解斜率m和偏移量b:


由此得到兩點(diǎn)校準的公式:


其中參數m和b用于將原始數據值轉換為處理值,其單位是校準期間使用的單位。對于b,可以使用右側表達式,也可以將兩者平均。


對于一點(diǎn)校準,b=0(假設沒(méi)有偏移誤差),默認情況下第二個(gè)數據點(diǎn)是原點(diǎn)(0,0),只有斜率需要校準。


結語(yǔ)


DAS(或DAQ)已經(jīng)成為電子行業(yè)的一個(gè)細分領(lǐng)域,它涉及模擬和數字波形處理。DAS采集和處理的常見(jiàn)策略是“撤消”處理功能或執行采集功能的反轉,這些功能必須通過(guò)模擬電路實(shí)現,因為有些是非線(xiàn)性的。模擬采集的每個(gè)階段都對應一個(gè)處理階段,以便系統在A(yíng)DC處可以自動(dòng)反轉,采集階段由處理階段鏡像,處理階段可以撤消它們所做的事情,直到檢測到的數量本身就是整個(gè)過(guò)程的剩余部分。


- END -

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